Boundary Scan
SIREN vous propose des développements de tests Boundary scan de cartes électroniques avec :
- Test d'infrastructure
- Test d'interconnexions de composants Boundary scan ou via des buffers de transparence
- Test de mémoires SDRAM, RAM, EEPROM I2C
- Test et programmation de composants PLD et Flash
- Test de cluster avec des ressources parallèles ou rebouclages sur connecteur
- Exportation vers SPECTRUM et GENRAD
Solutions proposées
- Etude de testabilité
- Réalisation d'interfaces spécifiques
- Développement du programme de test
- Assistance technique